株式会社堀場製作所
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第676位 49件
（
2010年：第455位 94件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第494位 65件
（2010年：第346位 88件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社堀場製作所の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4678676 | 物理現象または化学現象の測定方法または測定装置 | 2011年 4月27日 | |
| 特許 4667704 | 薄膜堆積方法とその装置および薄膜堆積方法に用いる混合ガス供給装置 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4659860 | 計測方法、分光エリプソメータ、プログラム、及び、製造装置 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4659859 | 計測方法、分光エリプソメータ、プログラム、製造装置及び成膜装置 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4658059 | 整流器 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4658917 | 半導体製造システム用分析装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4657838 | イオン濃度測定用複合電極及びイオン濃度モニター | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4652786 | 排気ガス分析装置及び混合システム | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4653703 | ＦＥＴセンサ | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4648739 | 分析装置及び校正方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4646761 | ダイヤモンド電極及びダイヤモンド電極の表面改質方法 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4641444 | 物理現象または化学現象に係るポテンシャル測定装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4642223 | 環境負荷低減システム | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4633296 | サーモパイルセンサ | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4627022 | 測光分析計 | 2011年 2月 9日 | 共同出願 |
65 件中 46-60 件を表示
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4678676 4667704 4659860 4659859 4658059 4658917 4657838 4652786 4653703 4648739 4646761 4641444 4642223 4633296 4627022
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