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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第270位 155件 (2011年:第2279位 9件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第225位 172件 (2011年:第1927位 11件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-114332 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-114259 | 基板処理システム及び基板処理方法 | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-114258 | 半導体装置及びその製造方法 | 2012年 6月14日 | |
特開 2012-109407 | 半導体素子の製造方法 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-106753 | チップ部品包装装置、チップ部品の包装方法及びカバーテープ | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-109603 | 半導体装置、光測定装置、光検出装置、及び半導体装置の製造方法 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-107946 | 電池電圧測定システム及び電池電圧測定方法 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-104587 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-101149 | スクラバー | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-101328 | 混合比率制御装置および方法、ならびに砥液供給システムおよび方法 | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-104541 | 検査支援方法、検査方法、フォトマスク、及び検査支援システム | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-104514 | 半導体ウエハの製造方法及び半導体ウエハ | 2012年 5月31日 | |
特開 2012-98254 | 運動検出装置、電子機器、運動検出方法及びプログラム | 2012年 5月24日 | |
特開 2012-95436 | 半導体回路、半導体装置、配線の異常診断方法、及び異常診断プログラム | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93261 | 半導体回路、半導体装置、故障診断方法、及び故障診断プログラム | 2012年 5月17日 |
155 件中 76-90 件を表示
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2012-114332 2012-114259 2012-114258 2012-109407 2012-106753 2012-109603 2012-107946 2012-104587 2012-101149 2012-101328 2012-104541 2012-104514 2012-98254 2012-95436 2012-93261
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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