アンリツ株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第417位 98件
（
2012年：第395位 104件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第255位 154件
（
2012年：第277位 132件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-138308 | 信号発生装置及び信号発生方法 | 2013年 7月11日 | |
| 特開 2013-135400 | デジタル変調信号発生装置およびデジタル変調信号発生方法 | 2013年 7月 8日 | |
| 特開 2013-135401 | リサンプル処理装置およびそれを用いたデジタル変調信号発生装置およびリサンプル処理方法 | 2013年 7月 8日 | |
| 特開 2013-130467 | ＦＢＧセンサシステム | 2013年 7月 4日 | |
| 特開 2013-131843 | 異常レーン検出回路及び方法並びにデスキュー回路及び方法 | 2013年 7月 4日 | |
| 特開 2013-131985 | 信号発生装置及び信号発生方法 | 2013年 7月 4日 | |
| 特開 2013-130833 | 光変調器 | 2013年 7月 4日 | |
| 特開 2013-131986 | ステップアッテネータ及びそれを備えた信号発生装置 | 2013年 7月 4日 | |
| 特開 2013-125217 | 光変調器 | 2013年 6月24日 | |
| 特開 2013-120893 | 半導体レーザ | 2013年 6月17日 | |
| 特開 2013-115741 | ミリ波帯用電波ハーフミラーおよびその透過率平坦化方法 | 2013年 6月10日 | |
| 特開 2013-110300 | バラクタダイオードおよび半導体集積回路 | 2013年 6月 6日 | |
| 特開 2013-108997 | 光パルス試験器 | 2013年 6月 6日 | |
| 特開 2013-106139 | 移動体通信端末の試験システム及び試験方法 | 2013年 5月30日 | |
| 特開 2013-104821 | 電界強度測定装置および電界強度測定方法 | 2013年 5月30日 |
98 件中 46-60 件を表示
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2013-138308 2013-135400 2013-135401 2013-130467 2013-131843 2013-131985 2013-130833 2013-131986 2013-125217 2013-120893 2013-115741 2013-110300 2013-108997 2013-106139 2013-104821
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