※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第315位 126件
(2010年:第351位 125件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第486位 66件
(2010年:第359位 83件)
(ランキング更新日:2025年6月6日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-43432 | ラマン光増幅特性評価装置 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-41107 | 移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-41106 | 移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-35598 | 光線路障害探索装置 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-27646 | 測定装置 | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-27913 | 光変調器モジュール | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-27908 | 光変調器モジュール | 2011年 2月10日 | |
特開 2011-24095 | 光線路障害探索装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-21957 | サンプリング波形測定装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-21956 | サンプリング波形測定装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23383 | 半導体レーザモジュール,およびこれを備えたラマン増幅器 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23809 | ネットワーク試験装置 | 2011年 2月 3日 | |
特開 2011-23808 | ネットワーク試験装置 | 2011年 2月 3日 | |
再表 2009-41516 | ジッタ発生装置およびそれを用いるデバイス試験システムならびにジッタ発生方法 | 2011年 1月27日 | |
再表 2009-41513 | 放射電力測定方法、放射電力測定用結合器及び放射電力測定装置 | 2011年 1月27日 |
126 件中 106-120 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-43432 2011-41107 2011-41106 2011-35598 2011-27646 2011-27913 2011-27908 2011-24095 2011-21957 2011-21956 2011-23383 2011-23809 2011-23808 2009-41516 2009-41513
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
6月6日(金) -
6月6日(金) -
6月10日(火) -
6月10日(火) -
6月11日(水) -
6月11日(水) -
6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月10日(火) -
〒530-0044 大阪府大阪市北区東天満1丁目11番15号 若杉グランドビル別館802 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
群馬県前橋市北代田町645-5 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒543-0014 大阪市天王寺区玉造元町2番32-1301 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング