アンリツ株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第484位 72件
（
2013年：第417位 98件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第288位 134件
（2013年：第255位 154件）
（ランキング更新日：2025年2月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5647205 | 移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5647206 | 移動体通信端末試験装置及び移動体通信端末試験方法 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5643780 | 無線端末測定装置、無線端末測定システム、及び無線端末測定方法 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5638498 | 光パルス試験システム及び光パルス試験方法 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5636414 | 測定結果表示装置及び方法 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5634291 | 光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法 | 2014年12月 3日 | |
| 特許 5632349 | 測定装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5631636 | ＯＳＮＲ評価装置及びＯＳＮＲ評価方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5632348 | 測定装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5632931 | 試験装置及び試験方法 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5629567 | 光パワーメータ及び光パワー測定方法 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5627848 | 光パルス試験器及び光パルス試験方法 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5622196 | 可変光遅延器及び可変光遅延方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5624785 | 波形評価装置及び波形評価方法 | 2014年11月12日 | |
| 特許 5623575 | 光パルス試験器 | 2014年11月12日 |
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5647205 5647206 5643780 5638498 5636414 5634291 5632349 5631636 5632348 5632931 5629567 5627848 5622196 5624785 5623575
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
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