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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第484位 72件 (2013年:第417位 98件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第288位 134件 (2013年:第255位 154件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5432352 | パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5431431 | シナリオ生成装置及びシナリオ生成方法並びに試験システム | 2014年 3月 5日 | |
特許 5429763 | 光信号モニタ装置及び該装置のサンプリング周波数調整方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5427606 | 放射電力測定方法及び放射電力測定装置 | 2014年 2月26日 | |
特許 5426638 | 移動体通信端末の試験システム及び試験方法 | 2014年 2月26日 | |
特許 5419935 | 多波長同時測定OTDR及び多波長同時OTDR測定方法 | 2014年 2月19日 | |
特許 5421963 | 光変調器モジュール | 2014年 2月19日 | |
特許 5421935 | 光変調器 | 2014年 2月19日 | |
特許 5416383 | 光パルス試験器 | 2014年 2月12日 | |
特許 5412369 | データ信号品質評価装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5412368 | データ信号品質評価装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5412367 | データ信号品質評価装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5411439 | 印刷はんだ検査装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5416658 | 光変調器および光変調器モジュール | 2014年 2月12日 | |
特許 5415381 | ネットワーク試験システム及びネットワーク試験方法 | 2014年 2月12日 |
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5432352 5431431 5429763 5427606 5426638 5419935 5421963 5421935 5416383 5412369 5412368 5412367 5411439 5416658 5415381
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2月4日(火) - 東京 港区
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2月5日(水) -
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2月6日(木) -
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2月7日(金) -
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