アンリツ株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第484位 72件
（
2013年：第417位 98件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第288位 134件
（2013年：第255位 154件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5412472 | 信号発生装置及び信号発生方法 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5410463 | 光パルス試験器イベント検出方法及び装置並びに光パルス試験装置 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5410454 | パルスパターン発生装置及び該装置を用いた誤り率測定システム並びにパルスパターン発生方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5410588 | 移動端末試験装置及び移動端末試験方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5410574 | 信号測定装置及び方法 | 2014年 2月 5日 | |
| 特許 5400928 | 試験システム及び試験方法並びに試験装置 | 2014年 1月29日 | |
| 特許 5398790 | 光線路特性測定システム及び光線路特性測定方法 | 2014年 1月29日 | |
| 特許 5395685 | ＡＰＤ測定装置 | 2014年 1月22日 | |
| 特許 5390084 | 光パルス試験器 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5391160 | 光変調器の初期動作点設定方法および多波長型光変調システム | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5390544 | 光デバイス | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5390563 | 移動体通信端末の試験装置及び試験方法 | 2014年 1月15日 | |
| 特許 5380647 | 光信号サンプリング装置及びその方法並びにそれを用いる光信号モニタ装置及びその方法 | 2014年 1月 8日 | |
| 特許 5380644 | 物理量測定システム | 2014年 1月 8日 |
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5412472 5410463 5410454 5410588 5410574 5400928 5398790 5395685 5390084 5391160 5390544 5390563 5380647 5380644
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