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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第890位 35件 (2012年:第759位 41件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1387位 18件 (2012年:第926位 32件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-68555 | X線回折測定データの解析方法 | 2013年 4月18日 | |
特開 2013-61306 | 蛍光X線分析用試料ホルダ | 2013年 4月 4日 | |
特開 2013-57598 | 半導体ストリップ検出器 | 2013年 3月28日 | |
特開 2013-36861 | X線応力測定装置 | 2013年 2月21日 | |
特開 2013-11537 | 蛍光X線分析装置 | 2013年 1月17日 |
35 件中 31-35 件を表示
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2013-68555 2013-61306 2013-57598 2013-36861 2013-11537
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11月22日(金) -
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
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11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
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11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
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12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -