株式会社リガク
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第890位 35件
（
2012年：第759位 41件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1387位 18件
（2012年：第926位 32件）
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5361005 | Ｘ線回折・熱分析同時測定装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5346057 | Ｘ線分析装置の試料冷却装置及びＸ線分析装置 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5345861 | Ｘ線分析及び熱分析同時分析装置 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5337832 | Ｘ線分析方法およびその装置 | 2013年11月 6日 | 共同出願 |
| 特許 5324735 | 結晶方位測定方法及びその装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5302932 | 試料容器および発生ガス分析方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5292323 | 微小部Ｘ線計測装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5290810 | 放射線画像読取装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5285572 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5276382 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5259199 | Ｘ線回折定量分析方法、Ｘ線回折定量分析装置、アスベストのＸ線回折定量分析方法及びアスベストのＸ線回折定量分析装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5237186 | Ｘ線散乱測定装置およびＸ線散乱測定方法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5232373 | ２結晶法Ｘ線トポグラフィ装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5219281 | Ｘ線分析装置 | 2013年 6月26日 | |
| 特許 5192354 | 領域特定方法、これを用いた容積計測方法、領域特定装置および領域特定プログラム | 2013年 5月 8日 |
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5361005 5346057 5345861 5337832 5324735 5302932 5292323 5290810 5285572 5276382 5259199 5237186 5232373 5219281 5192354
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