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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第759位 41件 (2011年:第1563位 15件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第926位 32件 (2011年:第903位 30件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4958258 | ガス分析装置 | 2012年 6月20日 | 共同出願 |
特許 4947665 | X線回折定量装置 | 2012年 6月 6日 | |
特許 4942114 | 磁気装置 | 2012年 5月30日 | |
特許 4939359 | 蛍光X線分析システムおよびそのシステムに用いるプログラム | 2012年 5月23日 | |
特許 4914514 | 蛍光X線分析装置および方法 | 2012年 4月11日 | |
特許 4909154 | 結晶粒の極点図測定方法およびその装置 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4908303 | X線単結晶方位測定装置およびその測定方法 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4908119 | 蛍光X線分析装置 | 2012年 4月 4日 | |
特許 4906038 | X線分析装置の試料支持装置及びX線分析装置 | 2012年 3月28日 | |
特許 4885490 | 磁性流体シール装置 | 2012年 2月29日 | |
特許 4884553 | X線分析装置および方法 | 2012年 2月29日 | |
特許 4880077 | X線検出信号処理装置および方法 | 2012年 2月22日 | |
特許 4861283 | X線回折装置およびX線回折方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861284 | X線回折装置およびX線回折方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4860418 | X線光学系 | 2012年 1月25日 |
32 件中 16-30 件を表示
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4958258 4947665 4942114 4939359 4914514 4909154 4908303 4908119 4906038 4885490 4884553 4880077 4861283 4861284 4860418
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11月28日(木) -
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12月1日(日) -
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12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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