株式会社リガク
※ ログインすれば出願人(株式会社リガク)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1113位 23件
（
2019年：第1167位 23件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1448位 12件
（
2019年：第919位 22件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年
株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6797421 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年12月 9日 | |
| 特許 6797762 | 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法 | 2020年12月 9日 | |
| 特許 6779531 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年11月 4日 | |
| 特許 6775777 | Ｘ線回折測定における測定結果の表示方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6749702 | Ｘ線信号処理装置及びＸ線分析装置 | 2020年 9月 2日 | |
| 特許 6732347 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年 7月29日 | |
| 特許 6713110 | バックグラウンド除去方法及び蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年 6月24日 | |
| 特許 6709377 | 蛍光Ｘ線分析装置および蛍光Ｘ線分析方法 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6709448 | Ｘ線反射率測定装置 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6679049 | 測定装置、プログラム及び測定装置の制御方法 | 2020年 4月15日 | |
| 特許 6656519 | Ｘ線回折装置 | 2020年 3月 4日 | |
| 特許 6653814 | 試料回収装置、試料回収方法、及びこれらを用いた蛍光Ｘ線分析装置 | 2020年 2月26日 | |
| 特許 6634585 | ピンホール・スリット体の製造方法、及びＸ線小角散乱測定装置 | 2020年 1月22日 |
13 件中 1-13 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6797421 6797762 6779531 6775777 6749702 6732347 6713110 6709377 6709448 6679049 6656519 6653814 6634585
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社リガクの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒107-0052 東京都港区赤坂2-2-21 永田町法曹ビル9F(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒106-6111 東京都港区六本木6丁目10番1号 六本木ヒルズ森タワー 11階 横浜駅前オフィス： 〒220-0004 神奈川県横浜市西区北幸１丁目１１ー１ 水信ビル ７階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒220-0004 横浜市西区北幸１－１１－１５ 横浜ＳＴビル８階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
