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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7190749 | 蛍光X線分析装置 | 2022年12月16日 | |
特許 7190751 | 蛍光X線分析装置 | 2022年12月16日 | |
特許 7181603 | X線分析用試料保持装置 | 2022年12月 1日 | |
特許 7178725 | 蛍光X線分析装置 | 2022年11月28日 | |
特許 7168985 | 微細構造の解析方法、装置およびプログラム | 2022年11月10日 | |
特許 7165400 | X線分析装置 | 2022年11月 4日 | |
特許 7165416 | X線分析装置、X線分析方法、及びX線分析プログラム | 2022年11月 4日 | |
特許 7130267 | 全反射蛍光X線分析装置及び推定方法 | 2022年 9月 5日 | |
特許 7129624 | X線検出器及び当該X線検出器の制御方法 | 2022年 9月 2日 | |
特許 7100897 | 微細構造の解析方法、装置およびプログラム | 2022年 7月14日 | |
特許 7100910 | 全反射蛍光X線分析装置 | 2022年 7月14日 | |
特許 7093928 | 多結晶金属材料の劣化診断方法、装置およびシステム | 2022年 7月 1日 | |
特許 7093929 | ニッケル基超合金の劣化診断方法、装置およびシステム | 2022年 7月 1日 | |
特許 7090900 | X線発生装置、及びX線分析装置 | 2022年 6月27日 | |
特許 7088555 | 放射線検出器および放射線検出方法 | 2022年 6月21日 |
20 件中 1-15 件を表示
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7190749 7190751 7181603 7178725 7168985 7165400 7165416 7130267 7129624 7100897 7100910 7093928 7093929 7090900 7088555
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