特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社リガク

※ ログインすれば出願人(株式会社リガク)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2019年出願公開件数ランキング　　　第1167位　23件（2018年：第1542位　15件）

　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第919位　22件（2018年：第1149位　17件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社リガクの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6618059	Ｘ線分析システム、Ｘ線分析装置及び気相分解装置	2019年12月11日
特許 6619268	放射線画像生成装置	2019年12月11日
特許 6614740	蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析プログラムおよび蛍光Ｘ線分析装置	2019年12月 4日
特許 6606658	Ｘ線回折装置	2019年11月20日
特許 6606706	処理方法、処理装置および処理プログラム	2019年11月20日
特許 6606710	熱分析装置	2019年11月20日
特許 6601854	蛍光Ｘ線分析システム	2019年11月 6日
特許 6586622	蛍光Ｘ線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光Ｘ線分析装置用の試料の作製方法	2019年10月 9日
特許 6574957	Ｘ線分析用信号処理装置及びＸ線分析用信号処理装置の調整方法	2019年 9月18日
特許 6574959	波長分散型蛍光Ｘ線分析装置およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法	2019年 9月18日
特許 6547197	基板汚染分析システム	2019年 7月24日
特許 6547212	Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム	2019年 7月24日
特許 6524473	データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム	2019年 6月 5日
特許 6501230	多元素同時型蛍光Ｘ線分析装置および多元素同時蛍光Ｘ線分析方法	2019年 4月17日
特許 6497784	結晶相同定方法、結晶相同定装置、及びＸ線回折測定システム	2019年 4月10日

23 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

6618059 6619268 6614740 6606658 6606706 6606710 6601854 6586622 6574957 6574959 6547197 6547212 6524473 6501230 6497784

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社リガクの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数