株式会社リガク
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（
2018年：第1542位 15件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第919位 22件
（2018年：第1149位 17件）
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6618059 | Ｘ線分析システム、Ｘ線分析装置及び気相分解装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6619268 | 放射線画像生成装置 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6614740 | 蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析プログラムおよび蛍光Ｘ線分析装置 | 2019年12月 4日 | |
| 特許 6606658 | Ｘ線回折装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6606706 | 処理方法、処理装置および処理プログラム | 2019年11月20日 | |
| 特許 6606710 | 熱分析装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6601854 | 蛍光Ｘ線分析システム | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6586622 | 蛍光Ｘ線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光Ｘ線分析装置用の試料の作製方法 | 2019年10月 9日 | |
| 特許 6574957 | Ｘ線分析用信号処理装置及びＸ線分析用信号処理装置の調整方法 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6574959 | 波長分散型蛍光Ｘ線分析装置およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法 | 2019年 9月18日 | |
| 特許 6547197 | 基板汚染分析システム | 2019年 7月24日 | |
| 特許 6547212 | Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム | 2019年 7月24日 | |
| 特許 6524473 | データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム | 2019年 6月 5日 | |
| 特許 6501230 | 多元素同時型蛍光Ｘ線分析装置および多元素同時蛍光Ｘ線分析方法 | 2019年 4月17日 | |
| 特許 6497784 | 結晶相同定方法、結晶相同定装置、及びＸ線回折測定システム | 2019年 4月10日 |
23 件中 1-15 件を表示
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6618059 6619268 6614740 6606658 6606706 6606710 6601854 6586622 6574957 6574959 6547197 6547212 6524473 6501230 6497784
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