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株式会社リガク

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株式会社リガクの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6618059	Ｘ線分析システム、Ｘ線分析装置及び気相分解装置	2019年12月11日
特許 6619268	放射線画像生成装置	2019年12月11日
特許 6614740	蛍光Ｘ線分析方法、蛍光Ｘ線分析プログラムおよび蛍光Ｘ線分析装置	2019年12月 4日
特許 6606658	Ｘ線回折装置	2019年11月20日
特許 6606706	処理方法、処理装置および処理プログラム	2019年11月20日
特許 6606710	熱分析装置	2019年11月20日
特許 6601854	蛍光Ｘ線分析システム	2019年11月 6日
特許 6586622	蛍光Ｘ線分析装置用の試料ホルダ並びに試料ホルダ作成治具及び蛍光Ｘ線分析装置用の試料の作製方法	2019年10月 9日
特許 6574957	Ｘ線分析用信号処理装置及びＸ線分析用信号処理装置の調整方法	2019年 9月18日
特許 6574959	波長分散型蛍光Ｘ線分析装置およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析方法	2019年 9月18日
特許 6547197	基板汚染分析システム	2019年 7月24日
特許 6547212	Ｘ線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム	2019年 7月24日
特許 6524473	データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム	2019年 6月 5日
特許 6501230	多元素同時型蛍光Ｘ線分析装置および多元素同時蛍光Ｘ線分析方法	2019年 4月17日
特許 6497784	結晶相同定方法、結晶相同定装置、及びＸ線回折測定システム	2019年 4月10日

23 件中 1-15 件を表示

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6618059 6619268 6614740 6606658 6606706 6606710 6601854 6586622 6574957 6574959 6547197 6547212 6524473 6501230 6497784

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