株式会社リガク
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1007位 30件
（
2016年：第2477位 8件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第1076位 19件
（
2016年：第808位 29件）
（ランキング更新日：2025年2月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6242185 | 補正情報生成方法および補正情報生成装置 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6242718 | 熱刺激電流測定装置、熱刺激電流測定プログラムおよび熱刺激電流測定方法 | 2017年12月 6日 | |
| 特許 6232568 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6231726 | 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム | 2017年11月15日 | |
| 特許 6226471 | 構造精密化装置、方法およびプログラム | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6212828 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2017年10月18日 | |
| 特許 6202684 | Ｘ線回折装置 | 2017年 9月27日 | |
| 特許 6191051 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2017年 9月 6日 | |
| 特許 6182758 | 放射線検出器、これを用いたＸ線分析装置および放射線検出方法 | 2017年 8月23日 | |
| 特許 6175662 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2017年 8月 9日 | |
| 特許 6168571 | 試料分析方法とその装置 | 2017年 7月26日 | |
| 特許 6142135 | 斜入射蛍光Ｘ線分析装置および方法 | 2017年 6月 7日 | |
| 特許 6135526 | 画像処理方法および画像処理装置 | 2017年 5月31日 | |
| 特許 6121347 | 熱刺激電流測定装置 | 2017年 4月26日 | |
| 特許 6114981 | Ｘ線発生装置 | 2017年 4月19日 |
19 件中 1-15 件を表示
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6242185 6242718 6232568 6231726 6226471 6212828 6202684 6191051 6182758 6175662 6168571 6142135 6135526 6121347 6114981
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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