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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第133位 271件
(2021年:第55位 653件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第60位 512件
(2021年:第82位 328件)
(ランキング更新日:2025年9月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7167996 | 事例検索方法 | 2022年11月 9日 | |
特許 7167997 | 文献検索方法および文献検索システム | 2022年11月 9日 | |
特許 7168065 | 材料試験機および接続治具 | 2022年11月 9日 | |
特許 7168074 | マイクロ流体システム | 2022年11月 9日 | |
特許 7165337 | 光結合装置 | 2022年11月 4日 | |
特許 7163874 | 分析装置及びX線回折装置 | 2022年11月 1日 | |
特許 7163955 | 細胞画像解析方法、細胞画像解析装置、及び学習モデル作成方法 | 2022年11月 1日 | |
特許 7163963 | 試料プレート供給制御装置、試料プレート供給制御システム、試料プレート供給制御方法および試料プレート供給制御プログラム | 2022年11月 1日 | |
特許 7163969 | X線位相差撮影システム | 2022年11月 1日 | |
特許 7163973 | 水質分析計 | 2022年11月 1日 | |
特許 7164010 | 冷却装置 | 2022年11月 1日 | |
特許 7164033 | ガスクロマトグラフ質量分析装置 | 2022年11月 1日 | |
特許 7164034 | 磁性体の劣化予測装置および磁性体の劣化予測方法 | 2022年11月 1日 | |
特許 7164037 | クロマトグラフ質量分析装置 | 2022年11月 1日 | |
特許 7164130 | 三次元形状測定用X線CT装置の長さ測定誤差評価用器物 | 2022年11月 1日 |
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7167996 7167997 7168065 7168074 7165337 7163874 7163955 7163963 7163969 7163973 7164010 7164033 7164034 7164037 7164130
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9月12日(金) -
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