株式会社ミツトヨ
※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2019年 出願公開件数ランキング 第245位 178件
（
2018年：第330位 117件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第241位 114件
（2018年：第303位 96件）
（ランキング更新日：2025年12月5日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6516453 | 画像測定装置及び測定装置 | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6517014 | 誘導検出型ロータリエンコーダ | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6517084 | 変位検出装置 | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6517516 | エンコーダ | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6517540 | 位相調整器及びエンコーダ | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6518146 | 形状測定装置の原点ゲージ | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6518421 | 真円度測定機およびその制御方法 | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6512752 | 試料表面の干渉信号を生成する干渉計システム及び方法 | 2019年 5月15日 | |
| 特許 6512917 | 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法 | 2019年 5月15日 | |
| 特許 6514041 | 形状測定装置の制御方法 | 2019年 5月15日 | |
| 特許 6508764 | 白色光干渉計光学ヘッドを用いた非接触表面形状測定方法及び装置 | 2019年 5月 8日 | |
| 特許 6508992 | 光電式エンコーダ | 2019年 5月 8日 | |
| 特許 6505468 | ノギスのジョウを移動させるためのローラ機構及びノギスに測定力を印加する方法 | 2019年 4月24日 | |
| 特許 6502071 | 拡張被写界深度を有する画像を得るマシンビジョン検査システム及び方法 | 2019年 4月17日 | |
| 特許 6502113 | 構造化照明顕微鏡法での画像シーケンス及び評価方法及びシステム | 2019年 4月17日 |
114 件中 61-75 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6516453 6517014 6517084 6517516 6517540 6518146 6518421 6512752 6512917 6514041 6508764 6508992 6505468 6502071 6502113
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
12月10日(水) -
12月10日(水) - 東京 千代田区
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ～スキルアップ編～ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く！ 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒541-0046 大阪市中央区平野町２丁目２番９号 ビル皿井２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒１６６－０００３ 東京都杉並区高円寺南２－５０－２ ＹＳビル３Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒152-0034 東京都目黒区緑が丘一丁目16番7号 意匠 商標 外国商標 訴訟 コンサルティング
