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旭化成エレクトロニクス株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第541位 63件
（
2018年：第347位 110件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第331位 81件
（
2018年：第375位 73件）
（ランキング更新日：2025年7月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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旭化成エレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6557538 | 化合物半導体基板、半導体装置及び化合物半導体基板の製造方法 | 2019年 8月 7日 | |
| 特許 6553416 | ホールセンサ | 2019年 7月31日 | |
| 特許 6546505 | 半導体装置及びその製造方法 | 2019年 7月17日 | |
| 特許 6546884 | 電流センサおよび電流センサの過熱検出方法 | 2019年 7月17日 | |
| 特許 6543065 | ガス濃度測定装置 | 2019年 7月10日 | |
| 特許 6543126 | ガス濃度測定装置 | 2019年 7月10日 | |
| 特許 6538943 | 測定装置および測定方法 | 2019年 7月 3日 | |
| 特許 6535292 | 異常診断装置、異常診断方法、およびプログラム | 2019年 6月26日 | |
| 特許 6535495 | 運動デバイス制御回路及びその調整方法並びに運動デバイス制御装置 | 2019年 6月26日 | |
| 特許 6533719 | 受発光装置 | 2019年 6月19日 | |
| 特許 6529608 | 駆動装置、レンズユニット、デバイス、補正方法、およびプログラム | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6530245 | 検出装置、磁気センサ、検出方法、およびプログラム | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6530521 | 光導波路及び光学式濃度測定装置 | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6530652 | 受発光装置 | 2019年 6月12日 | |
| 特許 6530669 | ガス濃度測定装置 | 2019年 6月12日 |
81 件中 31-45 件を表示
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6557538 6553416 6546505 6546884 6543065 6543126 6538943 6535292 6535495 6533719 6529608 6530245 6530521 6530652 6530669
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