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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第270位 154件
（
2014年：第155位 297件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第157位 199件
（2014年：第83位 448件）
（ランキング更新日：2025年5月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5803664 | 半導体装置の製造方法 | 2015年11月 4日 | |
| 特許 5799508 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5799831 | 検査装置及び検査方法 | 2015年10月28日 | |
| 特許 5793978 | 半導体装置 | 2015年10月14日 | |
| 特許 5794269 | 半導体装置 | 2015年10月14日 | |
| 特許 5789072 | マルチコアアーキテクチャにおけるリソース管理 | 2015年10月 7日 | |
| 特許 5790362 | ウエーハ研磨装置及びウエーハ検査方法 | 2015年10月 7日 | |
| 特許 5790387 | 半導体装置 | 2015年10月 7日 | |
| 特許 5785523 | 半導体装置及びその製造方法 | 2015年 9月30日 | |
| 特許 5782853 | 半導体記憶装置 | 2015年 9月24日 | |
| 特許 5778900 | 半導体装置の製造方法 | 2015年 9月16日 | |
| 特許 5779886 | 荷電粒子ビーム露光における後方散乱強度の生成方法，生成プログラム及びその方法を利用した半導体装置の製造方法 | 2015年 9月16日 | |
| 特許 5780165 | 半導体装置およびその製造方法 | 2015年 9月16日 | |
| 特許 5775018 | 半導体装置 | 2015年 9月 9日 | |
| 特許 5776346 | 通信装置、ネットワークシステム、及びパケットの処理方法 | 2015年 9月 9日 |
215 件中 16-30 件を表示
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5803664 5799508 5799831 5793978 5794269 5789072 5790362 5790387 5785523 5782853 5778900 5779886 5780165 5775018 5776346
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