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富士通セミコンダクター株式会社

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  2015年 出願公開件数ランキング    第270位 154件 下降2014年:第155位 297件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第157位 199件 下降2014年:第83位 448件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5803664 半導体装置の製造方法 2015年11月 4日
特許 5799508 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 2015年10月28日
特許 5799831 検査装置及び検査方法 2015年10月28日
特許 5793978 半導体装置 2015年10月14日
特許 5794269 半導体装置 2015年10月14日
特許 5789072 マルチコアアーキテクチャにおけるリソース管理 2015年10月 7日
特許 5790362 ウエーハ研磨装置及びウエーハ検査方法 2015年10月 7日
特許 5790387 半導体装置 2015年10月 7日
特許 5785523 半導体装置及びその製造方法 2015年 9月30日
特許 5782853 半導体記憶装置 2015年 9月24日
特許 5778900 半導体装置の製造方法 2015年 9月16日
特許 5779886 荷電粒子ビーム露光における後方散乱強度の生成方法,生成プログラム及びその方法を利用した半導体装置の製造方法 2015年 9月16日
特許 5780165 半導体装置およびその製造方法 2015年 9月16日
特許 5775018 半導体装置 2015年 9月 9日
特許 5776346 通信装置、ネットワークシステム、及びパケットの処理方法 2015年 9月 9日

215 件中 16-30 件を表示

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5803664 5799508 5799831 5793978 5794269 5789072 5790362 5790387 5785523 5782853 5778900 5779886 5780165 5775018 5776346

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