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アンリツ株式会社

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　■　2025年出願公開件数ランキング　　　第266位　128件（2024年：第334位　97件）

　■　2025年特許取得件数ランキング　　　第311位　90件（2024年：第291位　106件）

（ランキング更新日：2026年10月16日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2025-184350	高周波回路及びその異常検出方法	2025年12月18日
特開 2025-179502	検量線生成装置、検量線生成装置の制御方法及び検量線生成装置の制御プログラム	2025年12月10日
特開 2025-177784	検量線生成システム及び検量線生成システムの制御方法	2025年12月 5日
特開 2025-177783	分光器の校正装置、及びこれを備えた物品検査装置、並びに分光器の校正方法	2025年12月 5日
特開 2025-177782	検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム	2025年12月 5日
特開 2025-176956	分光測定装置及びこれを備えた物品検査装置	2025年12月 5日
特開 2025-176955	分光測定装置及びこれを備えた物品検査装置	2025年12月 5日
特開 2025-174124	物品検査装置	2025年11月28日
特開 2025-174067	検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム	2025年11月28日
特開 2025-174068	検量線生成装置、検量線生成方法及び検量線生成プログラム	2025年11月28日
特開 2025-173355	試験システム及び送信アンテナ相関推定方法	2025年11月27日
特開 2025-172465	物品検査装置	2025年11月26日
特開 2025-172466	分光測定装置及びこれを備えた物品検査装置	2025年11月26日
特開 2025-172470	測定装置とその測定方法	2025年11月26日
特開 2025-172507	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2025年11月26日

129 件中 1-15 件を表示

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2025-184350 2025-179502 2025-177784 2025-177783 2025-177782 2025-176956 2025-176955 2025-174124 2025-174067 2025-174068 2025-173355 2025-172465 2025-172466 2025-172470 2025-172507

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数

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