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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第526位 72件
(2016年:第423位 82件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第387位 69件
(2016年:第466位 61件)
(ランキング更新日:2025年6月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6082419 | データ信号発生装置及びデータ信号発生方法 | 2017年 2月15日 | |
特許 6077879 | 半導体レーザモジュール | 2017年 2月 8日 | |
特許 6078089 | プリント基板および当該基板を用いたプリント基板連結構造 | 2017年 2月 8日 | |
特許 6078135 | 携帯端末試験装置 | 2017年 2月 8日 | |
特許 6069113 | サンプリング波形測定装置およびサンプリング波形測定方法 | 2017年 2月 1日 | |
特許 6074449 | MIMOシステム試験装置およびそのチャネル相関情報設定方法 | 2017年 2月 1日 | |
特許 6068946 | 波長掃引光源のモードホップ検出装置 | 2017年 1月25日 | |
特許 6061905 | パラメータ設定装置、パラメータ設定方法及び移動端末試験装置 | 2017年 1月18日 | |
特許 6062408 | 移動体端末試験装置 | 2017年 1月18日 | |
特許 6062847 | 半導体光増幅器 | 2017年 1月18日 | |
特許 6062976 | アース接続不良検出装置及びアース接続不良検出方法 | 2017年 1月18日 |
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6082419 6077879 6078089 6078135 6069113 6074449 6068946 6061905 6062408 6062847 6062976
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