アンリツ株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第247位 147件
（
2021年：第365位 99件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第204位 163件
（2021年：第346位 77件）
（ランキング更新日：2025年5月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2022-117578 | 物品排除装置および物品検査システム | 2022年 8月12日 | |
| 特開 2022-115423 | 移動端末試験装置、移動端末試験システム及び移動端末試験装置の制御方法 | 2022年 8月 9日 | |
| 特開 2022-115576 | 誤り検出装置および誤り検出方法 | 2022年 8月 9日 | |
| 特開 2022-114987 | 薄膜基板回路 | 2022年 8月 8日 | |
| 特開 2022-113233 | 信号発生装置及び信号発生装置の制御方法 | 2022年 8月 4日 | |
| 特開 2022-112602 | 移動端末試験装置、及び移動端末試験方法 | 2022年 8月 3日 | |
| 特開 2022-110838 | アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置 | 2022年 7月29日 | |
| 特開 2022-110839 | アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置 | 2022年 7月29日 | |
| 特開 2022-109772 | 信号発生装置とその減衰量補正方法 | 2022年 7月28日 | |
| 特開 2022-109773 | 測定装置とその補間方法 | 2022年 7月28日 | |
| 特開 2022-109774 | Ｘ線検査装置 | 2022年 7月28日 | |
| 特開 2022-108504 | 温度試験装置及び温度試験方法 | 2022年 7月26日 | |
| 特開 2022-108505 | 温度試験装置及び温度試験方法 | 2022年 7月26日 | |
| 特開 2022-108506 | 温度試験装置及び温度試験方法 | 2022年 7月26日 | |
| 特開 2022-108507 | 温度試験装置及び温度試験方法 | 2022年 7月26日 |
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2022-117578 2022-115423 2022-115576 2022-114987 2022-113233 2022-112602 2022-110838 2022-110839 2022-109772 2022-109773 2022-109774 2022-108504 2022-108505 2022-108506 2022-108507
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