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アンリツ株式会社

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　■　2022年出願公開件数ランキング　　　第247位　147件（2021年：第365位　99件）

　■　2022年特許取得件数ランキング　　　第204位　163件（2021年：第346位　77件）

（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2022-46285	モジュール及びその製造方法	2022年 3月23日
特開 2022-46287	モジュール及びその製造方法	2022年 3月23日
特開 2022-45681	端末保持具、端末回転装置、及び移動端末試験装置	2022年 3月22日
特開 2022-45682	通信アンテナ及びそれを備えたアンテナ装置	2022年 3月22日
特開 2022-43496	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法	2022年 3月16日
特開 2022-43738	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2022年 3月16日
特開 2022-42837	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法	2022年 3月15日
特開 2022-42838	誤り率測定装置、及び誤り率測定方法	2022年 3月15日
特開 2022-40949	物品検査装置	2022年 3月11日
特開 2022-40950	誤り率測定装置およびパラメータ取得方法	2022年 3月11日
特開 2022-39323	アンテナデバイス及びそれを備えたアンテナ装置	2022年 3月10日
特開 2022-34645	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2022年 3月 4日
特開 2022-34858	光測定装置	2022年 3月 4日
特開 2022-35956	スペクトラム拡散クロック発生器及びスペクトラム拡散クロック発生方法、パルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法、並びに、誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2022年 3月 4日
特開 2022-33585	パルス変調光計測方法、パルス変調光計測プログラム、及び光スペクトラムアナライザ	2022年 3月 2日

147 件中 121-135 件を表示

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2022-46285 2022-46287 2022-45681 2022-45682 2022-43496 2022-43738 2022-42837 2022-42838 2022-40949 2022-40950 2022-39323 2022-34645 2022-34858 2022-35956 2022-33585

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