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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第2460位 8件
(2023年:第2865位 7件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第3695位 4件
(2023年:第10364位 1件)
(ランキング更新日:2025年2月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2024-540047 | マルチビームシステムにおける結像分解能の大域的および局所的最適化の方法 | 2024年10月31日 | |
特開 2024-153679 | 動的制御を伴う高スループットマルチビーム荷電粒子検査システム | 2024年10月29日 | |
特表 2024-535055 | デフォーカスされるビームの誘導でコントラスト動作モードにおいてマルチビーム粒子顕微鏡を動作させるための方法、コンピュータプログラムおよびマルチビーム粒子顕微鏡 | 2024年 9月26日 | |
特表 2024-529159 | 集束能力が増大したマルチビーム生成ユニット | 2024年 8月 1日 | |
特表 2024-528680 | 改良型ビーム電流制御を備えたマルチビーム粒子顕微鏡 | 2024年 7月30日 | |
特表 2024-526894 | 高速閉ループビーム電流制御を備えたマルチビーム粒子顕微鏡を動作させる方法、コンピュータプログラム製品およびマルチビーム粒子顕微鏡 | 2024年 7月19日 | |
特表 2024-524925 | 歪み最適化マルチビーム走査システム | 2024年 7月 9日 | |
特表 2024-521822 | マルチビーム顕微鏡、および検査部位に応じて調整された設定を用いてマルチビーム顕微鏡を動作させるための方法 | 2024年 6月 4日 |
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2024-540047 2024-153679 2024-535055 2024-529159 2024-528680 2024-526894 2024-524925 2024-521822
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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