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(2023年:第35905位 0件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第27650位 0件
(2023年:第27627位 0件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7606189 | 窒化物半導体層の不純物濃度を測定する測定方法及び測定装置 | 2024年12月25日 | |
特許 7606190 | スイッチングデバイスとその製造方法 | 2024年12月25日 | |
特許 7604848 | 炭化珪素半導体ウェハの製造装置 | 2024年12月24日 | |
特許 7605074 | 光学部材 | 2024年12月24日 | |
特許 7605722 | モータ駆動装置 | 2024年12月24日 | |
特許 7600898 | 半導体装置の検査装置および検査方法 | 2024年12月17日 | |
特許 7596908 | 半導体ウェハ、圧電素子、および半導体ウェハの製造方法 | 2024年12月10日 | |
特許 7597644 | ゲート駆動装置 | 2024年12月10日 | |
特許 7594259 | MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)振動子 | 2024年12月 4日 | |
特許 7593225 | 炭化珪素半導体装置 | 2024年12月 3日 | |
特許 7593235 | 半導体装置 | 2024年12月 3日 | |
特許 7593839 | 半導体装置 | 2024年12月 3日 | |
特許 7593896 | 死角補助装置 | 2024年12月 3日 | |
特許 7587792 | 窒化物半導体装置の製造方法 | 2024年11月21日 | |
特許 7585714 | チップ構成ウェハの製造方法 | 2024年11月19日 |
83 件中 1-15 件を表示
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7606189 7606190 7604848 7605074 7605722 7600898 7596908 7597644 7594259 7593225 7593235 7593839 7593896 7587792 7585714
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4月23日(水) - 東京 千代田区
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