株式会社リガク
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許 7606753
|
情報処理装置、情報処理方法、プログラム及びＸ線分析装置 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7598681
|
結像型Ｘ線顕微鏡 | 2024年12月12日 | |
| 特許 7575033
|
軸受装置 | 2024年10月29日 | |
| 特許 7572033
|
結像型Ｘ線顕微鏡 | 2024年10月23日 | |
| 特許 7527015
|
結晶構造解析方法、結晶構造解析装置及び結晶構造解析プログラム | 2024年 8月 2日 | |
| 特許 7525166
|
結晶化度測定装置、結晶化度測定方法及びプログラム | 2024年 7月30日 | |
| 特許 7520419
|
試料ホルダユニット | 2024年 7月23日 | |
| 特許 7515875
|
センターシフト量推定装置、方法およびプログラム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7515885
|
定量分析装置、方法およびプログラムならびに製造管理システム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7515898
|
制御装置、システム、方法およびプログラム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7497058
|
蛍光Ｘ線分析装置 | 2024年 6月10日 | |
| 特許 7493847
|
単結晶Ｘ線構造解析装置とそのための方法 | 2024年 6月 3日 | |
| 特許 7492261
|
Ｘ線分析装置 | 2024年 5月29日 | |
| 特許 7485872
|
放射線測定装置 | 2024年 5月17日 | |
| 特許 7481238
|
層厚解析方法 | 2024年 5月10日 |
25 件中 1-15 件を表示
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7606753 7598681 7575033 7572033 7527015 7525166 7520419 7515875 7515885 7515898 7497058 7493847 7492261 7485872 7481238
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