株式会社リガク
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（
2023年：第1101位 23件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第936位 24件
（
2023年：第833位 28件）
（ランキング更新日：2026年10月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社リガクの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7606753 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム及びＸ線分析装置 | 2024年12月26日 | |
| 特許 7598681 | 結像型Ｘ線顕微鏡 | 2024年12月12日 | |
| 特許 7575033 | 軸受装置 | 2024年10月29日 | |
| 特許 7572033 | 結像型Ｘ線顕微鏡 | 2024年10月23日 | |
| 特許 7527015 | 結晶構造解析方法、結晶構造解析装置及び結晶構造解析プログラム | 2024年 8月 2日 | |
| 特許 7525166 | 結晶化度測定装置、結晶化度測定方法及びプログラム | 2024年 7月30日 | |
| 特許 7520419 | 試料ホルダユニット | 2024年 7月23日 | |
| 特許 7515898 | 制御装置、システム、方法およびプログラム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7515885 | 定量分析装置、方法およびプログラムならびに製造管理システム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7515875 | センターシフト量推定装置、方法およびプログラム | 2024年 7月16日 | |
| 特許 7497058 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2024年 6月10日 | |
| 特許 7493847 | 単結晶Ｘ線構造解析装置とそのための方法 | 2024年 6月 3日 | |
| 特許 7492261 | Ｘ線分析装置 | 2024年 5月29日 | |
| 特許 7485872 | 放射線測定装置 | 2024年 5月17日 | |
| 特許 7481238 | 層厚解析方法 | 2024年 5月10日 |
25 件中 1-15 件を表示
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7606753 7598681 7575033 7572033 7527015 7525166 7520419 7515898 7515885 7515875 7497058 7493847 7492261 7485872 7481238
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