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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第988位 28件
(2014年:第1122位 24件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1019位 20件
(2014年:第702位 43件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2015-79011 | X線測定装置 | 2015年 4月23日 | |
特開 2015-75341 | X線異物検査装置およびX線検査システム | 2015年 4月20日 | |
特開 2015-62039 | X線回折方法及びそれを用いた可搬型X線回折装置 | 2015年 4月 2日 | |
特開 2015-42969 | 試料測定結果処理装置、試料測定結果処理方法及びプログラム | 2015年 3月 5日 | |
特開 2015-38428 | 分析装置用炉体の温度制御装置及び熱分析装置 | 2015年 2月26日 | |
特開 2015-38430 | 熱機械分析装置 | 2015年 2月26日 | |
特開 2015-38451 | 分析装置、分析方法及び分析制御プログラム | 2015年 2月26日 | |
特開 2015-38452 | 分析装置および分析制御プログラム | 2015年 2月26日 | |
特開 2015-28462 | 熱刺激電流測定装置 | 2015年 2月12日 | |
特開 2015-28463 | 熱刺激電流測定装置、熱刺激電流測定プログラムおよび熱刺激電流測定方法 | 2015年 2月12日 | |
特開 2015-17866 | X線検出信号処理ユニットおよびそれを備えるX線分析装置 | 2015年 1月29日 | |
特開 2015-14553 | グロー放電発光分光分析用調整試料およびそれを用いたグロー放電発光分光分析方法 | 2015年 1月22日 | |
特開 2015-7609 | グロー放電発光分光分析方法 | 2015年 1月15日 | |
特開 2015-4639 | 単結晶基板の反り測定方法及び測定装置 | 2015年 1月 8日 |
29 件中 16-29 件を表示
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2015-79011 2015-75341 2015-62039 2015-42969 2015-38428 2015-38430 2015-38451 2015-38452 2015-28462 2015-28463 2015-17866 2015-14553 2015-7609 2015-4639
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