日本電子株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第450位 75件
（
2019年：第365位 105件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第420位 61件
（
2019年：第477位 50件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-85548 | イオンビーム加工装置による断面試料作製方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-85565 | 表面分析装置および表面分析方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-85601 | 質量分析装置、ガスクロマトグラフ質量分析装置及び焼き出し電流制御装置 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-85602 | 質量分析システム及びエミッタ電流制御方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-85822 | 化学構造推定装置及び方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-87513 | 走査電子顕微鏡および画像処理方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-87634 | 走査型電子顕微鏡装置 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-87701 | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の制御方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-77454 | 電子顕微鏡および画像処理方法 | 2020年 5月21日 | |
| 特開 2020-71085 | 分注ユニット及び自動分析装置 | 2020年 5月 7日 | |
| 特開 2020-60381 | 元素マップの生成方法および表面分析装置 | 2020年 4月16日 | |
| 特開 2020-57514 | 電子顕微鏡 | 2020年 4月 9日 | |
| 特開 2020-51994 | ＤＮＰ−ＮＭＲプローブ及びその使用方法 | 2020年 4月 2日 | |
| 特開 2020-52002 | 自動分析装置、および自動分析方法 | 2020年 4月 2日 | |
| 特開 2020-53325 | 電子顕微鏡装置、電子顕微鏡装置の制御方法、電子顕微鏡装置の検査方法 | 2020年 4月 2日 |
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2020-85548 2020-85565 2020-85601 2020-85602 2020-85822 2020-87513 2020-87634 2020-87701 2020-77454 2020-71085 2020-60381 2020-57514 2020-51994 2020-52002 2020-53325
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