日本電子株式会社
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第557位 66件
（
2016年：第499位 67件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第563位 44件
（
2016年：第600位 43件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-224449 | 電子顕微鏡および画像取得方法 | 2017年12月21日 | |
| 特開 2017-220413 | 荷電粒子線装置および収差補正方法 | 2017年12月14日 | |
| 特開 2017-203755 | 磁気共鳴信号検出モジュール | 2017年11月16日 | |
| 特開 2017-204375 | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の制御方法 | 2017年11月16日 | |
| 特開 2017-204425 | 電子分光装置および測定方法 | 2017年11月16日 | |
| 特開 2017-190982 | 質量分析装置および画像生成方法 | 2017年10月19日 | |
| 特開 2017-191749 | 電子顕微鏡および焦点合わせ方法 | 2017年10月19日 | |
| 特開 2017-187324 | 質量分析に基づいた組成解析のための組成候補抽出方法 | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-188302 | 分析装置 | 2017年10月12日 | |
| 特開 2017-173103 | 質量分析装置 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-174751 | 電子顕微鏡および収差補正方法 | 2017年 9月28日 | |
| 特開 2017-166898 | 染色方法および観察方法 | 2017年 9月21日 | |
| 特開 2017-168332 | 質量分析データ補正方法及び装置 | 2017年 9月21日 | |
| 特開 2017-161270 | Ｘ線分析装置 | 2017年 9月14日 | |
| 特開 2017-161309 | 相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 | 2017年 9月14日 |
68 件中 1-15 件を表示
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2017-224449 2017-220413 2017-203755 2017-204375 2017-204425 2017-190982 2017-191749 2017-187324 2017-188302 2017-173103 2017-174751 2017-166898 2017-168332 2017-161270 2017-161309
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