特許ランキング - 出願人詳細情報 -

日本電子株式会社

※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第555位　37件（2023年：第463位　68件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第328位　67件（2023年：第390位　78件）

（ランキング更新日：2024年9月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年

日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-112082	電子顕微鏡、収差補正方法、および撮像方法	2024年 8月20日
特開 2024-112087	試料分析システム及び試料分析方法	2024年 8月20日
特開 2024-106609	混合器及びそれを備えた荷電粒子線装置	2024年 8月 8日
特開 2024-102630	試料ホルダー、試料ホルダーセット、および試料作製方法	2024年 7月31日
特開 2024-99921	質量分析システム及びピーク評価方法	2024年 7月26日
特開 2024-92704	遮蔽板製造装置および遮蔽板の製造方法	2024年 7月 8日
特開 2024-90213	衝突判定装置、プログラム及び衝突判定方法	2024年 7月 4日
特開 2024-85160	試料ステージおよび荷電粒子ビーム装置	2024年 6月26日
特開 2024-68324	ＭＡＳ装置	2024年 5月20日
特開 2024-66835	分析方法および分析装置	2024年 5月16日
特開 2024-65713	電子顕微鏡、多極子、および電子顕微鏡の制御方法	2024年 5月15日
特開 2024-65714	荷電粒子光学系の調整方法および荷電粒子線装置	2024年 5月15日
特開 2024-63114	ホスホニウム化合物、誘導体化用試薬キット、質量分析方法、及びホスホニウム化合物の製造方法	2024年 5月10日
特開 2024-56411	試料支持体及びその製造方法	2024年 4月23日
特開 2024-51310	インドールカルボン酸化合物、インドールカルボン酸化合物の混合物、及び分析方法	2024年 4月11日

38 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2024-112082 2024-112087 2024-106609 2024-102630 2024-99921 2024-92704 2024-90213 2024-85160 2024-68324 2024-66835 2024-65713 2024-65714 2024-63114 2024-56411 2024-51310

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数