日本電子株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第372位 91件
（
2021年：第446位 77件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第298位 101件
（
2021年：第250位 116件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2022-185757 | 荷電粒子線装置および画像取得方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-185769 | 走査型電子顕微鏡、及び、走査型電子顕微鏡を用いた画像生成方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-186453 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-186454 | 試料加工装置および情報提供方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-186455 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-186456 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-186457 | 試料加工装置および試料加工方法 | 2022年12月15日 | |
| 特開 2022-178656 | 非蒸発型ゲッタコーティング装置、非蒸発型ゲッタコーティング容器・配管の製造方法、非蒸発型ゲッタコーティング容器・配管 | 2022年12月 2日 | |
| 特開 2022-177442 | 質量分析方法及び情報処理装置 | 2022年12月 1日 | |
| 特開 2022-174318 | 評価方法および荷電粒子ビーム装置 | 2022年11月22日 | |
| 特開 2022-170946 | 複合ビーム装置 | 2022年11月11日 | |
| 特開 2022-162682 | 電子顕微鏡及び試料汚染防止方法 | 2022年10月25日 | |
| 特開 2022-161147 | ウイルス由来タンパク質検出方法、マススペクトル処理装置及び質量分析システム | 2022年10月21日 | |
| 特開 2022-161376 | 電子スピン共鳴測定装置 | 2022年10月21日 | |
| 特開 2022-160062 | 自動分析装置 | 2022年10月19日 |
93 件中 1-15 件を表示
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2022-185757 2022-185769 2022-186453 2022-186454 2022-186455 2022-186456 2022-186457 2022-178656 2022-177442 2022-174318 2022-170946 2022-162682 2022-161147 2022-161376 2022-160062
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