特許ランキング - 出願人詳細情報 -

日本電子株式会社

※ ログインすれば出願人(日本電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2014年出願公開件数ランキング　　　　件（2013年：　件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　　件（2013年：　件）

（ランキング更新日：2026年10月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

日本電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2014-240770	放射線検出装置および放射線分析装置	2014年12月25日
特開 2014-224793	電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法	2014年12月 4日
特開 2014-225735	画像処理方法、画像処理装置、撮像装置、およびプログラム	2014年12月 4日
特開 2014-225354	走査荷電粒子顕微鏡、画像取得方法、および電子検出方法	2014年12月 4日
特開 2014-215078	大気圧イオン化方法および大気圧イオン源	2014年11月17日
特開 2014-212063	走査荷電粒子顕微鏡、走査荷電粒子顕微鏡の制御方法、および走査荷電粒子顕微鏡の軸合わせ方法	2014年11月13日
特開 2014-207165	クリーニング装置	2014年10月30日
特開 2014-194982	荷電粒子ビーム偏向装置	2014年10月 9日
特開 2014-192109	試料導入装置および荷電粒子線装置	2014年10月 6日
特開 2014-192108	ホルダー、荷電粒子線装置、および真空装置	2014年10月 6日
特開 2014-182070	質量分析装置	2014年 9月29日
特開 2014-179200	質量分析装置	2014年 9月25日
特開 2014-173864	放射線検出装置および試料分析装置	2014年 9月22日
特開 2014-165239	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2014年 9月 8日
特開 2014-160028	測定容器供給装置	2014年 9月 4日	共同出願

41 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2014-240770 2014-224793 2014-225735 2014-225354 2014-215078 2014-212063 2014-207165 2014-194982 2014-192109 2014-192108 2014-182070 2014-179200 2014-173864 2014-165239 2014-160028

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数