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日本電子株式会社

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  2018年 出願公開件数ランキング    第451位 73件 上昇2017年:第557位 66件)

  2018年 特許取得件数ランキング    第455位 57件 上昇2017年:第563位 44件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2018-204071 3次元積層造形装置 2018年12月27日
特開 2018-204962 自動分析装置及びプログラム 2018年12月27日
特開 2018-205080 NMR測定装置及び磁場マップ演算方法 2018年12月27日
特開 2018-205154 画像処理装置、分析装置、および画像処理方法 2018年12月27日
特開 2018-206589 走査電子顕微鏡 2018年12月27日
特開 2018-199167 削り器 2018年12月20日
特開 2018-200186 サンプル容器支持アダプタ 2018年12月20日
特開 2018-200270 画像処理装置、表面分析装置、および画像処理方法 2018年12月20日
特開 2018-200810 電子顕微鏡像の歪み測定方法、電子顕微鏡、歪み測定用試料、および歪み測定用試料の製造方法 2018年12月20日
特開 2018-200815 イオンミリング装置及び試料ホルダー 2018年12月20日
特開 2018-194468 NMR用自動試料交換装置 2018年12月 6日
特開 2018-195545 荷電粒子線装置および走査像の歪み補正方法 2018年12月 6日
特開 2018-195546 荷電粒子線装置 2018年12月 6日
特開 2018-190622 電子顕微鏡及び制御方法 2018年11月29日
特開 2018-190628 試料ホルダーユニット及び試料観察装置 2018年11月29日

78 件中 1-15 件を表示

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2018-204071 2018-204962 2018-205080 2018-205154 2018-206589 2018-199167 2018-200186 2018-200270 2018-200810 2018-200815 2018-194468 2018-195545 2018-195546 2018-190622 2018-190628

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