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日本電子株式会社

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  2013年 出願公開件数ランキング    第742位 45件 下降2012年:第544位 64件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第494位 71件 下降2012年:第485位 70件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2013-258031 電子顕微鏡の調整方法及び電子顕微鏡 2013年12月26日
特開 2013-258030 電子顕微鏡及び電子顕微鏡の作動方法 2013年12月26日
特開 2013-251104 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 2013年12月12日
特開 2013-251225 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 2013年12月12日
特開 2013-251484 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2013年12月12日
特開 2013-242221 試薬容器及び試料容器のアダプタ 2013年12月 5日
特開 2013-242238 臨床検査用分析装置および臨床検査用分析装置における洗浄方法 2013年12月 5日
特開 2013-239343 荷電粒子ビームの軸合わせ方法および荷電粒子ビーム装置 2013年11月28日
特開 2013-239514 電子銃、その駆動装置、およびその制御方法 2013年11月28日
特開 2013-239319 タンデム飛行時間型質量分析計 2013年11月28日
特開 2013-234347 真空成膜装置の透明電極基板の製造方法及び真空成膜装置 2013年11月21日
特開 2013-229158 飛行時間型質量分析計 2013年11月 7日
特開 2013-221854 電子顕微鏡観察用染色剤および電子顕微鏡観察用試料の染色方法 2013年10月28日
特開 2013-218901 試料保持装置および試料解析装置 2013年10月24日
特開 2013-213270 真空成膜装置 2013年10月17日

45 件中 1-15 件を表示

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2013-258031 2013-258030 2013-251104 2013-251225 2013-251484 2013-242221 2013-242238 2013-239343 2013-239514 2013-239319 2013-234347 2013-229158 2013-221854 2013-218901 2013-213270

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