日本電子株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第450位 75件
（
2019年：第365位 105件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第420位 61件
（
2019年：第477位 50件）
（ランキング更新日：2025年6月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-149922 | 荷電粒子線装置 | 2020年 9月17日 | |
| 特開 2020-144071 | 分析装置およびスペクトル生成方法 | 2020年 9月10日 | |
| 特開 2020-135972 | イオンビーム電流測定装置、試料作成装置及びイオンビーム電流算出方法 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136052 | 観察方法 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136053 | 観察方法、画像処理装置、および電子顕微鏡 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136233 | 試料交換装置及び荷電粒子線装置 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-128906 | 分析方法、検量線の作成方法、および自動分析装置 | 2020年 8月27日 | |
| 再表 2019-49825 | 自動分析装置および検体分注機構の異常検出方法 | 2020年 8月20日 | |
| 特開 2020-126721 | 荷電粒子線システム及び走査電子顕微鏡を用いた試料測定方法 | 2020年 8月20日 | |
| 特開 2020-123455 | 偏向器および荷電粒子線装置 | 2020年 8月13日 | |
| 特開 2020-123533 | 走査透過電子顕微鏡および収差補正方法 | 2020年 8月13日 | |
| 特開 2020-118542 | 組成推定装置及び方法 | 2020年 8月 6日 | |
| 特開 2020-118561 | 試薬ボトル収容ユニット及び自動分析装置 | 2020年 8月 6日 | |
| 特開 2020-118565 | 自動分析装置 | 2020年 8月 6日 | |
| 特開 2020-119667 | 電子顕微鏡 | 2020年 8月 6日 |
82 件中 16-30 件を表示
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2020-149922 2020-144071 2020-135972 2020-136052 2020-136053 2020-136233 2020-128906 2019-49825 2020-126721 2020-123455 2020-123533 2020-118542 2020-118561 2020-118565 2020-119667
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