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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1619位 14件
（
2017年：第1035位 29件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第744位 29件
（
2017年：第842位 26件）
（ランキング更新日：2025年6月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6340254 | 測定装置及び方法並びにプログラム | 2018年 6月 6日 | |
| 特許 6334132 | 統合型校正装置及びランタイム校正方法 | 2018年 5月30日 | |
| 特許 6325201 | 試験測定装置 | 2018年 5月16日 | |
| 特許 6320672 | 任意波形発生装置のチャンネル校正方法 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6320705 | 初期位相可変リング発振器 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6320826 | リレー故障検出システム、電子チェンジオーバー・ユニット及び電子チェンジオーバー・ユニット動作方法 | 2018年 5月 9日 | |
| 特許 6301059 | 信号合成回路及びシステム | 2018年 3月28日 | |
| 特許 6301068 | 信号調整装置及びその製造方法 | 2018年 3月28日 | |
| 特許 6301079 | 波形生成回路及び波形生成シーケンス制御方法 | 2018年 3月28日 | |
| 特許 6292751 | 可変シンボル間干渉発生装置及びデータ信号生成方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6267409 | 試験測定装置及びイベント検索方法 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6267424 | 視覚ストレス・シーン検出方法、視覚ストレス・シーン低減方法、視覚ストレス検出装置及び視覚ストレス検出装置の検証方法 | 2018年 1月24日 | |
| 特許 6258573 | 試験測定装置及び信号デジタル化方法 | 2018年 1月10日 | |
| 特許 6259199 | タイリング又はブロックノイズ検出方法及び装置 | 2018年 1月10日 |
29 件中 16-29 件を表示
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6340254 6334132 6325201 6320672 6320705 6320826 6301059 6301068 6301079 6292751 6267409 6267424 6258573 6259199
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