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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2018-197745	コンピューティング装置、物理的な入力信号を解釈する方法及びそのためのコンピュータ・プログラム	2018年12月13日
特開 2018-197746	電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法	2018年12月13日
特開 2018-179993	試験測定装置及び信号アクイジション方法	2018年11月15日
特開 2018-159702	試験測定システム、波形処理方法及びコンピュータ・プログラム	2018年10月11日
特開 2018-81077	プローブ及び静電放電からの保護方法	2018年 5月24日
特開 2018-77212	試験測定システム及び判定帰還型イコライザを利用する方法	2018年 5月17日
特開 2018-74587	ノイズ・フィルタ及びノイズ・フィルタの利用方法	2018年 5月10日
特開 2018-74589	デジタル・アナログ変換装置、複数のデジタル・アナログ・コンバータの同期方法及び位相検出回路の校正方法	2018年 5月10日
特開 2018-63254	被試験デバイスの入力インピーダンスを求める方法及び波形測定装置	2018年 4月19日
特開 2018-59912	試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法	2018年 4月12日
特開 2018-29330	試験測定システム及び通信障害を求める方法	2018年 2月22日
特開 2018-26110	電気光学センサ及びそのシステム並びに光入力信号中の変動を検出又は補償する方法	2018年 2月15日
特開 2018-14718	デジタル化装置及び方法	2018年 1月25日
特開 2018-9971	ノイズ低減装置及び入力電気信号デジタル化方法	2018年 1月18日

14 件中 1-14 件を表示

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2018-197745 2018-197746 2018-179993 2018-159702 2018-81077 2018-77212 2018-74587 2018-74589 2018-63254 2018-59912 2018-29330 2018-26110 2018-14718 2018-9971

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