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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第1619位 14件
（
2017年：第1035位 29件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第744位 29件
（
2017年：第842位 26件）
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-197745 | コンピューティング装置、物理的な入力信号を解釈する方法及びそのためのコンピュータ・プログラム | 2018年12月13日 | |
| 特開 2018-197746 | 電気光学センサ及びマッハツェンダ変調器の利用方法 | 2018年12月13日 | |
| 特開 2018-179993 | 試験測定装置及び信号アクイジション方法 | 2018年11月15日 | |
| 特開 2018-159702 | 試験測定システム、波形処理方法及びコンピュータ・プログラム | 2018年10月11日 | |
| 特開 2018-81077 | プローブ及び静電放電からの保護方法 | 2018年 5月24日 | |
| 特開 2018-77212 | 試験測定システム及び判定帰還型イコライザを利用する方法 | 2018年 5月17日 | |
| 特開 2018-74587 | ノイズ・フィルタ及びノイズ・フィルタの利用方法 | 2018年 5月10日 | |
| 特開 2018-74589 | デジタル・アナログ変換装置、複数のデジタル・アナログ・コンバータの同期方法及び位相検出回路の校正方法 | 2018年 5月10日 | |
| 特開 2018-63254 | 被試験デバイスの入力インピーダンスを求める方法及び波形測定装置 | 2018年 4月19日 | |
| 特開 2018-59912 | 試験測定装置及び測定を提案するための試験測定装置をトレーニングする方法 | 2018年 4月12日 | |
| 特開 2018-29330 | 試験測定システム及び通信障害を求める方法 | 2018年 2月22日 | |
| 特開 2018-26110 | 電気光学センサ及びそのシステム並びに光入力信号中の変動を検出又は補償する方法 | 2018年 2月15日 | |
| 特開 2018-14718 | デジタル化装置及び方法 | 2018年 1月25日 | |
| 特開 2018-9971 | ノイズ低減装置及び入力電気信号デジタル化方法 | 2018年 1月18日 |
14 件中 1-14 件を表示
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2018-197745 2018-197746 2018-179993 2018-159702 2018-81077 2018-77212 2018-74587 2018-74589 2018-63254 2018-59912 2018-29330 2018-26110 2018-14718 2018-9971
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