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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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  2023年 出願公開件数ランキング    第678位 43件 上昇2022年:第830位 32件)

  2023年 特許取得件数ランキング    第1732位 11件 下降2022年:第1445位 14件)

(ランキング更新日:2025年1月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2023-183409 試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法 2023年12月27日
特表 2023-552381 フェーズド・アレイ無線試験 2023年12月15日
特開 2023-172948 試験測定アクセサリ 2023年12月 6日
特表 2023-550645 高速入力/出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置 2023年12月 4日
特表 2023-550646 高速入出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置 2023年12月 4日
特開 2023-168323 試験測定装置及びイコライザ・タップ値を求める方法 2023年11月24日
特開 2023-159054 試験測定装置及びその動作方法 2023年10月31日
特開 2023-153038 試験システム及び方法 2023年10月17日
特開 2023-138489 ノイズを求めて特性を評価する方法及び試験測定装置 2023年10月 2日
特開 2023-118113 試験測定装置及び試験測定装置における方法 2023年 8月24日
特開 2023-115003 試験測定装置及び試験測定装置における方法 2023年 8月18日
特表 2023-535406 再構成変更可能な処理コンポーネントを有する試験測定装置アクセサリ 2023年 8月17日
特表 2023-535138 変換されたシミュレーション波形を用いた電子信号の検証 2023年 8月16日
特表 2023-534200 自動支援型回路検証 2023年 8月 8日
特表 2023-534201 製造された電子回路のプロービング目標を示す 2023年 8月 8日

43 件中 1-15 件を表示

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2023-183409 2023-552381 2023-172948 2023-550645 2023-550646 2023-168323 2023-159054 2023-153038 2023-138489 2023-118113 2023-115003 2023-535406 2023-535138 2023-534200 2023-534201

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