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テクトロニクス・インコーポレイテッド

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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-183409	試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法	2023年12月27日
特表 2023-552381	フェーズド・アレイ無線試験	2023年12月15日
特開 2023-172948	試験測定アクセサリ	2023年12月 6日
特表 2023-550645	高速入力／出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置	2023年12月 4日
特表 2023-550646	高速入出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置	2023年12月 4日
特開 2023-168323	試験測定装置及びイコライザ・タップ値を求める方法	2023年11月24日
特開 2023-159054	試験測定装置及びその動作方法	2023年10月31日
特開 2023-153038	試験システム及び方法	2023年10月17日
特開 2023-138489	ノイズを求めて特性を評価する方法及び試験測定装置	2023年10月 2日
特開 2023-118113	試験測定装置及び試験測定装置における方法	2023年 8月24日
特開 2023-115003	試験測定装置及び試験測定装置における方法	2023年 8月18日
特表 2023-535406	再構成変更可能な処理コンポーネントを有する試験測定装置アクセサリ	2023年 8月17日
特表 2023-535138	変換されたシミュレーション波形を用いた電子信号の検証	2023年 8月16日
特表 2023-534200	自動支援型回路検証	2023年 8月 8日
特表 2023-534201	製造された電子回路のプロービング目標を示す	2023年 8月 8日

43 件中 1-15 件を表示

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2023-183409 2023-552381 2023-172948 2023-550645 2023-550646 2023-168323 2023-159054 2023-153038 2023-138489 2023-118113 2023-115003 2023-535406 2023-535138 2023-534200 2023-534201

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