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株式会社アドバンテスト
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第779位 36件
（
2019年：第1534位 16件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1550位 11件
（2019年：第3203位 4件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-41894 | 計測装置および校正方法 | 2020年 3月19日 | |
| 特開 2020-41975 | 装置、方法、およびプログラム | 2020年 3月19日 | |
| 特開 2020-38116 | テストセル内の異なるフォームファクタのテスト対象デバイスの自動ハンドリング | 2020年 3月12日 | |
| 特開 2020-38121 | 微粒子測定システム、情報処理装置、ソフトウェアプログラム、計測装置、微粒子の測定方法 | 2020年 3月12日 | |
| 特開 2020-16560 | ロードボード及び電子部品試験装置 | 2020年 1月30日 | |
| 特開 2020-16584 | 計測装置および微粒子測定システム | 2020年 1月30日 |
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2020-41894 2020-41975 2020-38116 2020-38121 2020-16560 2020-16584
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