特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー・コーポレーション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー・コーポレーション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2012年出願公開件数ランキング　　　第1162位　23件（2011年：第1434位　17件）

　■　2012年特許取得件数ランキング　　　第4646位　3件（2011年：第3248位　5件）

（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特表 2012-533756	リング状照射を備える暗視野検査システム	2012年12月27日
特表 2012-533737	パターン付き層上における改良された感度のための光学的欠陥増幅	2012年12月27日
特表 2012-533884	設計データおよび欠陥データを使用したスキャナ性能の比較およびマッチング	2012年12月27日
特表 2012-533855	荷電粒子エネルギー分析器	2012年12月27日
特表 2012-532458	時間的に変化する欠陥分類性能の監視	2012年12月13日
特開 2012-247811	広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム	2012年12月13日
特開 2012-248535	絶縁層を介して導電経路を形成するための装置及び方法	2012年12月13日
特表 2012-530904	異なるピッチを有する多重アレイ領域を同時に検査する方法および装置	2012年12月 6日
特表 2012-531042	極紫外線マスクブランクの欠陥検出のための検査システム及び方法	2012年12月 6日
特表 2012-530902	パターン化用ＥＵＶマスク、マスクブランク、及びウェーハ上の欠陥を検出するＥＵＶ高処理能力検査システム	2012年12月 6日
特表 2012-529182	高スループット検査システムに適したセンサ用の反射防止膜	2012年11月15日
特表 2012-527770	太陽電池の輸送	2012年11月 8日
特表 2012-520570	ウェーハ用検査工程を生成するための方法及びシステム	2012年 9月 6日
特表 2012-516063	ウエハ上の欠陥を検出するためのシステムおよび方法	2012年 7月12日
特表 2012-515925	高速検査のための局在駆動および信号処理回路を備えたＴＤＩセンサーモジュール	2012年 7月12日

23 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2012-533756 2012-533737 2012-533884 2012-533855 2012-532458 2012-247811 2012-248535 2012-530904 2012-531042 2012-530902 2012-529182 2012-527770 2012-520570 2012-516063 2012-515925

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数