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ケーエルエー−テンカー・コーポレーション

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ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特表 2012-533756	リング状照射を備える暗視野検査システム	2012年12月27日
特表 2012-533737	パターン付き層上における改良された感度のための光学的欠陥増幅	2012年12月27日
特表 2012-533884	設計データおよび欠陥データを使用したスキャナ性能の比較およびマッチング	2012年12月27日
特表 2012-533855	荷電粒子エネルギー分析器	2012年12月27日
特表 2012-532458	時間的に変化する欠陥分類性能の監視	2012年12月13日
特開 2012-247811	広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム	2012年12月13日
特開 2012-248535	絶縁層を介して導電経路を形成するための装置及び方法	2012年12月13日
特表 2012-530904	異なるピッチを有する多重アレイ領域を同時に検査する方法および装置	2012年12月 6日
特表 2012-531042	極紫外線マスクブランクの欠陥検出のための検査システム及び方法	2012年12月 6日
特表 2012-530902	パターン化用ＥＵＶマスク、マスクブランク、及びウェーハ上の欠陥を検出するＥＵＶ高処理能力検査システム	2012年12月 6日
特表 2012-529182	高スループット検査システムに適したセンサ用の反射防止膜	2012年11月15日
特表 2012-527770	太陽電池の輸送	2012年11月 8日
特表 2012-520570	ウェーハ用検査工程を生成するための方法及びシステム	2012年 9月 6日
特表 2012-516063	ウエハ上の欠陥を検出するためのシステムおよび方法	2012年 7月12日
特表 2012-515925	高速検査のための局在駆動および信号処理回路を備えたＴＤＩセンサーモジュール	2012年 7月12日

23 件中 1-15 件を表示

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2012-533756 2012-533737 2012-533884 2012-533855 2012-532458 2012-247811 2012-248535 2012-530904 2012-531042 2012-530902 2012-529182 2012-527770 2012-520570 2012-516063 2012-515925

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