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ケーエルエー−テンカー・コーポレーション

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ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-242595	反射対物鏡、ミラーを有する広帯域対物光学系、及び屈折レンズを有する光学撮像システム、及び２つ以上の結像経路を有する広帯域光学撮像システム	2013年12月 5日
特開 2013-153167	ウエハー上で実施される測定中のプロセスに関するダイナミック・サンプリング・スキームを生成または実施するための方法ならびにシステム	2013年 8月 8日
特表 2013-527972	基板トポグラフィならびにそのリソグラフィ・デフォーカスおよびオーバーレイとの関係についてのサイトに基づく定量化	2013年 7月 4日
特開 2013-123070	シールドを備えるプロセス条件測定素子	2013年 6月20日
特表 2013-511809	調整可能なビーム制限開口部によって可能にされた高感度及び高処理能力の電子ビーム検査柱	2013年 4月 4日
特表 2013-511152	フォトレジストシミュレーション	2013年 3月28日
特表 2013-506297	非接触インタフェースシステム	2013年 2月21日
特表 2013-504206	スピンウェーハ検査システムのための、動的に合焦・指向・形成される傾斜レーザー照射を生成および計測するための方法および装置	2013年 2月 4日
特表 2013-504063	計測システムおよび計測方法	2013年 2月 4日
特表 2013-503493	クリティカルディメンション均一性を決定するための一意なマークおよびその方法、ならびにウェハオーバーレイ機能と組み合わされたレチクルの位置合わせ	2013年 1月31日
特表 2013-502586	画像収集	2013年 1月24日
特開 2013-12184	標本データ用のロバストなピークファインダー	2013年 1月17日
特表 2013-500586	角度分解逆対称光波散乱計測	2013年 1月 7日

13 件中 1-13 件を表示

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2013-242595 2013-153167 2013-527972 2013-123070 2013-511809 2013-511152 2013-506297 2013-504206 2013-504063 2013-503493 2013-502586 2013-12184 2013-500586

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