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ケーエルエー−テンカー・コーポレーション

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  2012年 出願公開件数ランキング    第1162位 23件 上昇2011年:第1434位 17件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第4646位 3件 下降2011年:第3248位 5件)

(ランキング更新日:2025年2月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特表 2012-514871 光散乱計測ターゲット設計の最適化 2012年 6月28日
特開 2012-103244 干渉計測システムを囲う環境の温度安定性を向上させ、ノイズを最小限にするための方法および装置 2012年 5月31日
特表 2012-512419 欠陥の検出及び応答 2012年 5月31日
特表 2012-511179 レチクル上の欠陥を検出する方法及びシステム 2012年 5月17日
特開 2012-84886 パターンの生成装置および生成方法 2012年 4月26日
特開 2012-80131 重ね合わせマーク、重ね合わせマークの設計方法および重ね合わせ測定の方法 2012年 4月19日
特表 2012-504246 計測システムの照明サブシステム、計測システム、および計測測定のために試験片を照明するための方法 2012年 2月16日
特表 2012-501553 局部的な基板の幾何的特性評価 2012年 1月19日

23 件中 16-23 件を表示

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2012-514871 2012-103244 2012-512419 2012-511179 2012-84886 2012-80131 2012-504246 2012-501553

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