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ケーエルエー−テンカー・コーポレーション
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第1323位 19件
（
2014年：第2128位 10件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第1164位 17件
（
2014年：第907位 32件）
（ランキング更新日：2025年6月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ケーエルエー−テンカー・コーポレーションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2015-38499 | 検査システムおよびモジュラーアレイ | 2015年 2月26日 | |
| 特開 2015-38624 | 対物光学系および試料検査装置 | 2015年 2月26日 | |
| 特開 2015-39021 | 光散乱計測ターゲット設計の最適化 | 2015年 2月26日 | |
| 特開 2015-18279 | 広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外顕微鏡映像システム | 2015年 1月29日 |
19 件中 16-19 件を表示
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2015-38499 2015-38624 2015-39021 2015-18279
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