ホーム > 特許ランキング > 日本電信電話株式会社 > 2021年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(日本電信電話株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2021年 出願公開件数ランキング 第104位 376件
(2020年:第23位 1194件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第23位 873件
(2020年:第14位 1182件)
(ランキング更新日:2022年7月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6984545 | 光トランシーバ | 2021年12月22日 | |
特許 6984551 | 異常検知装置、および、異常検知方法 | 2021年12月22日 | |
特許 6984559 | 集音拡声装置、その方法、およびプログラム | 2021年12月22日 | |
特許 6984561 | 干渉縞間隔可変光回路及び縞投影装置 | 2021年12月22日 | |
特許 6984567 | 認可システム及び認可方法 | 2021年12月22日 | |
特許 6984569 | ネットワーク装置、および、ネットワーク試験方法 | 2021年12月22日 | |
特許 6984576 | リソース決定装置、方法及びプログラム | 2021年12月22日 | |
特許 6984578 | トランジスタの作製方法 | 2021年12月22日 | |
特許 6984698 | 仮想環境構築装置、仮想環境構築方法、およびプログラム | 2021年12月22日 | |
特許 6984760 | 変換装置及び変換プログラム | 2021年12月22日 | |
特許 6984761 | 情報処理装置及び情報処理プログラム | 2021年12月22日 | |
特許 6984784 | 光伝送特性推定方法、光伝送特性推定システム及び光伝送特性補償システム | 2021年12月22日 | |
特許 6985597 | 光受信装置及び周波数オフセット推定方法 | 2021年12月22日 | |
特許 6985604 | 光ノード装置 | 2021年12月22日 | |
特許 6985605 | 運動評価改善システム及び運動評価改善方法 | 2021年12月22日 |
892 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6984545 6984551 6984559 6984561 6984567 6984569 6984576 6984578 6984698 6984760 6984761 6984784 6985597 6985604 6985605
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本電信電話株式会社の知財の動向チェックに便利です。
7月5日(火) - 東京 品川区
7月5日(火) -
7月5日(火) -
7月5日(火) - 大阪 大阪市
7月6日(水) -
7月6日(水) - 東京 新宿区
7月6日(水) -
7月7日(木) -
7月8日(金) -
7月8日(金) -
7月8日(金) -
7月5日(火) - 東京 品川区
7月12日(火) -
7月12日(火) -
7月12日(火) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月13日(水) -
7月15日(金) -
7月15日(金) -
7月15日(金) -
7月12日(火) -
名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階(旧横山ビル) http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江東区亀戸一丁目8番8号大樹生命亀戸ビル6階 6TH FLOOR, TAIJU SEIMEI KAMEIDO BLDG., 8-8, KAMEIDO 1-CHOME, KOTO-KU, TOKYO 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定