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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第89位　360件（2015年：第95位　287件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-176689	干渉測定方法、及びその装置	2016年10月 6日
特開 2016-176777	自動分析装置及び自動分析方法並びに自動分析システム	2016年10月 6日
特開 2016-176846	自動分析装置	2016年10月 6日
特開 2016-178037	荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置を用いた画像の生成方法並びに画像処理装置	2016年10月 6日
特開 2016-178257	プラズマ処理装置	2016年10月 6日
特開 2016-173615	計測装置	2016年 9月29日
特開 2016-173874	イオンミリング装置	2016年 9月29日
特開 2016-174060	プラズマ処理装置	2016年 9月29日
特開 2016-170057	自動分析装置	2016年 9月23日
特開 2016-170284	ステージ装置、ラマンナノポアＤＮＡシーケンサ、および光学顕微鏡装置	2016年 9月23日
特開 2016-170896	荷電粒子ビーム装置及びそれを用いた画像の形成方法	2016年 9月23日
特開 2016-171087	パターン測定方法、荷電粒子線装置の装置条件設定方法、および荷電粒子線装置	2016年 9月23日
特開 2016-166793	自動分析装置	2016年 9月15日
特開 2016-166876	自動分析装置および分析方法	2016年 9月15日
特開 2016-167602	プラズマ処理装置	2016年 9月15日

246 件中 46-60 件を表示

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2016-176689 2016-176777 2016-176846 2016-178037 2016-178257 2016-173615 2016-173874 2016-174060 2016-170057 2016-170284 2016-170896 2016-171087 2016-166793 2016-166876 2016-167602

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