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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第191位 225件
(2019年:第177位 270件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第127位 223件
(2019年:第110位 254件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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再表 2019-146220 | 自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-159609 | 自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-167468 | 自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-176295 | 自動分析装置および自動分析装置の流路詰まり検出方法 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-176298 | 自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-176341 | 自動分析装置及び分析方法 | 2020年10月22日 | |
再表 2019-189869 | 自動分析システム | 2020年10月22日 | |
特開 2020-173101 | 画像処理装置、自動分析システム及び画像処理方法 | 2020年10月22日 | |
特開 2020-173178 | インターロックユニットおよびそれを備えた自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
特開 2020-173257 | 自動分析装置 | 2020年10月22日 | |
特開 2020-173904 | パターン断面形状推定システム、およびプログラム | 2020年10月22日 | |
再表 2019-44648 | 接続モジュール及び干渉回避方法 | 2020年10月15日 | |
特開 2020-170835 | 半導体素子の製造方法及びプラズマ処理装置 | 2020年10月15日 | |
再表 2019-138720 | 自動分析装置 | 2020年10月 8日 | |
再表 2019-38883 | 荷電粒子線装置およびそれを用いた観察方法、元素分析方法 | 2020年10月 1日 |
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2019-146220 2019-159609 2019-167468 2019-176295 2019-176298 2019-176341 2019-189869 2020-173101 2020-173178 2020-173257 2020-173904 2019-44648 2020-170835 2019-138720 2019-38883
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2月22日(土) - 東京 板橋区
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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