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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第273位 126件
（
2023年：第263位 136件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第83位 368件
（
2023年：第87位 361件）
（ランキング更新日：2025年1月8日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-179156 | 放射線治療システムの制御装置及び制御方法 | 2024年12月26日 | |
| 特開 2024-179499 | 物品移載機構および物品管理システム | 2024年12月26日 | |
| 特開 2024-180532 | カラムカートリッジ | 2024年12月26日 | |
| 特開 2024-178764 | 基板処理装置 | 2024年12月25日 | |
| 特開 2024-177979 | 鉄心付き超電導磁石、鉄心付き超電導磁石を備える加速器および加速器を備える粒子線治療装置 | 2024年12月24日 | |
| 特開 2024-176489 | 粒子分析装置 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-176517 | イオンガイド及び質量分析計 | 2024年12月19日 | |
| 特表 2024-546203 | 微生物画像解析方法 | 2024年12月18日 | |
| 特開 2024-174330 | 半導体処理装置 | 2024年12月17日 | |
| 特開 2024-174701 | 放射線照射システム、放射線治療システムおよび放射線照射方法 | 2024年12月17日 | |
| 特開 2024-172398 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理システム | 2024年12月12日 | |
| 特開 2024-173135 | 分光測定装置およびその調整方法 | 2024年12月12日 | |
| 特開 2024-173205 | 電池状態の診断方法、電池診断装置、および、電池診断システム | 2024年12月12日 | |
| 特開 2024-173345 | 自動培養装置、自動培養システム | 2024年12月12日 | |
| 特開 2024-170964 | 電磁石システム、電磁石システム演算方法、電磁石システム製造方法および電磁石システム演算装置 | 2024年12月11日 |
132 件中 1-15 件を表示
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2024-179156 2024-179499 2024-180532 2024-178764 2024-177979 2024-176489 2024-176517 2024-546203 2024-174330 2024-174701 2024-172398 2024-173135 2024-173205 2024-173345 2024-170964
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