株式会社東京精密
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第202位 167件
（
2024年：第199位 176件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第217位 141件
（
2024年：第228位 146件）
（ランキング更新日：2026年5月1日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7688817 | プローバ及びその制御方法 | 2025年 6月 5日 | |
| 特許 7686413 | シリコンウエハのエッジ品質向上方法 | 2025年 6月 2日 | |
| 特許 7686425 | ウエハ保持装置 | 2025年 6月 2日 | |
| 特許 7685345 | ウェーハのテラス加工方法及びそれに用いる加工装置 | 2025年 5月29日 | |
| 特許 7685576 | ブラストユニット付き面取り装置及び面取り方法 | 2025年 5月29日 | |
| 特許 7685647 | ウェーハ表面の改質装置および方法 | 2025年 5月29日 | |
| 特許 7682636 | ダイシングテープの張力異常検知装置及び方法 | 2025年 5月26日 | |
| 特許 7682644 | テープ貼付装置及びテープマガジン | 2025年 5月26日 | |
| 特許 7683077 | 基板加工装置 | 2025年 5月26日 | |
| 特許 7681822 | 校正ユニット、及び校正方法 | 2025年 5月23日 | |
| 特許 7681227 | プローバ及びその制御方法 | 2025年 5月22日 | |
| 特許 7678966 | 表面性状測定装置 | 2025年 5月19日 | |
| 特許 7678967 | ワーク処理システム | 2025年 5月19日 | |
| 特許 7676156 | 真空チャック及びそれを備える検査装置 | 2025年 5月14日 | |
| 特許 7669640 | 光回転プローブの校正方法 | 2025年 4月30日 |
141 件中 76-90 件を表示
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7688817 7686413 7686425 7685345 7685576 7685647 7682636 7682644 7683077 7681822 7681227 7678966 7678967 7676156 7669640
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