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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2024年12月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-200319 | 電子顕微鏡システム及びそれを用いたパターン寸法計測方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-201028 | イオンミリング装置 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-198410 | 液中グラム染色法及び微生物検査方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-200529 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の露光光照射方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月 3日 | |
| 再表 2012-17789 | ガス電解電離イオン源及びその使用方法、並びに、イオンビーム装置、並びに、エミッタチップ及びその製造方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-201143 | 荷電粒子銃及び荷電粒子線装置 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-201212 | 光電変換装置および光電変換装置の製造方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-200686 | データ処理装置、データ容量増加抑制方法 | 2013年10月 3日 | |
| 特開 2013-195778 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-192553 | 核酸検査装置、検査待ち反応容器の割り当て決定方法及びプログラム | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-195531 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のアライメント方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-197568 | 露光装置及び露光方法 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-196723 | 磁気ディスク検査装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-197287 | ＦＰＤモジュール組立装置 | 2013年 9月30日 | |
| 特開 2013-195175 | パターン計測装置、及び半導体計測システム | 2013年 9月30日 |
716 件中 181-195 件を表示
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2013-200319 2013-201028 2013-198410 2013-200529 2012-17789 2013-201143 2013-201212 2013-200686 2013-195778 2013-192553 2013-195531 2013-197568 2013-196723 2013-197287 2013-195175
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