ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2013年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5377993 | プラズマ処理方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378724 | 発現ｍＲＮＡ識別方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5374225 | ウェハ検査条件決定方法、ウェハ検査条件決定システム及びウェハ検査システム | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378313 | 自動分析装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378962 | 動的搬送計画装置及び動的搬送計画方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378307 | 液体クロマトグラフ用検出器 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379044 | 自動分析装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378185 | 集束イオンビーム装置、及び集束イオンビーム加工方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378081 | 反応容器，試薬供給機構、及びそれらを用いる分析装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378576 | 収差補正器を備えた荷電粒子線装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5377086 | レーザ加工方法、レーザ加工装置及びソーラパネル製造方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5371302 | 単一プローブ分子素子及び単一プローブ分子固定金属微粒子 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373868 | 自動分析装置用反応セルの製造方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372876 | 核酸分析デバイス，核酸分析装置、及び核酸分析方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373573 | 自動分析装置、および自動分析装置の光源ランプ交換方法 | 2013年12月18日 |
717 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5377993 5378724 5374225 5378313 5378962 5378307 5379044 5378185 5378081 5378576 5377086 5371302 5373868 5372876 5373573
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪府大阪市西区靱本町1丁目10番4号 本町井出ビル2F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
＊毎日新聞ビル(梅田)＊ 〒530-0001 大阪市北区梅田３丁目４番５号 毎日新聞ビル９階 ＊高槻事務所＊ 〒569-1116 大阪府高槻市白梅町４番１４号１６０２号室 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
