特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2013年出願公開件数ランキング　　　第59位　716件（2012年：第54位　709件）

　■　2013年特許取得件数ランキング　　　第51位　717件（2012年：第71位　547件）

（ランキング更新日：2024年12月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2013-196951	電子線応用装置およびレンズアレイ	2013年 9月30日
特開 2013-197334	基準マーク生成方法及び基準マーク生成装置	2013年 9月30日
特開 2013-197568	露光装置及び露光方法	2013年 9月30日
特開 2013-196723	磁気ディスク検査装置	2013年 9月30日
特開 2013-190252	欠陥検査方法及びその装置	2013年 9月26日
特開 2013-190400	自動分析装置	2013年 9月26日
特開 2013-191333	荷電粒子線装置用防音カバー及び荷電粒子線装置	2013年 9月26日
特開 2013-188809	分析装置の制御方法	2013年 9月26日
特開 2013-185980	自動分析装置	2013年 9月19日
特開 2013-186004	分光光度計および吸光光度測定法	2013年 9月19日
特開 2013-185972	液体クロマトグラフ及び分析方法	2013年 9月19日
特開 2013-185975	自動分析装置	2013年 9月19日
特開 2013-187510	半導体検査装置および半導体検査方法	2013年 9月19日
特開 2013-186275	露光装置、及び露光装置のプリアライメント方法	2013年 9月19日
特開 2013-187157	テンプレートマッチング位置合わせ方法および荷電粒子線装置	2013年 9月19日

716 件中 196-210 件を表示

... 14

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-196951 2013-197334 2013-197568 2013-196723 2013-190252 2013-190400 2013-191333 2013-188809 2013-185980 2013-186004 2013-185972 2013-185975 2013-187510 2013-186275 2013-187157

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数